結(jié)合各種識(shí)別工具，測量分析各類顆粒物

通過讀取SEM、TEM等拍攝的圖像并識(shí)別目標(biāo)顆粒，自動(dòng)計(jì)算粒徑分布并將顆粒形狀數(shù)字化。
通過使用手寫板的手動(dòng)分析工具，可以輕松識(shí)別形狀復(fù)雜的顆粒和團(tuán)聚顆粒。

Mac-View Version.5 中的新功能和改進(jìn)

?在粒子獲取模式中添加了“針狀"

Mac-View Version.5 的特點(diǎn)

■凝集粒子的一次粒徑分析

現(xiàn)在可以評(píng)估聚集顆粒的初級(jí)粒徑，這在以前是很困難的。

■納米粒子的評(píng)價(jià)

只要尺度信息可用，無論顆粒大小如何，都可以進(jìn)行分析。

■多邊分析評(píng)估

可以自動(dòng)測量粒度分布并分析顆粒形狀（圓形度、長徑比等）。此外，可以獲得豐富的數(shù)據(jù)，從而可以評(píng)估聚集顆粒的初級(jí)顆粒。

■操作方便

它不需要任何特殊知識(shí)，并且易于操作，因此不需要操作人員任何技能水平。

■無需昂貴的資金投入

只要您準(zhǔn)備好圖像（jpeg、位圖），在 PC 上安裝軟件后即可立即使用。

應(yīng)用實(shí)例

納米粒子、凝聚粒子、顆粒、燒結(jié)體截面、乳液粒徑等

支持軟件

■綜合粉末分析軟件Mac-PIAS

Mac-PIAS是綜合性粉末分析軟件的新維度，可以集中管理和分析使用各種方法測量的“粒度分布數(shù)據(jù)"。

■篩分試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析軟件Macmesh

Macmesh 是一種工具，可以消除數(shù)據(jù)密集型篩分測試中的人為錯(cuò)誤，并提高測試效率。